内容简介：
李法新、周锡龙、付际著的《纳米力学测试新方法--扫描探针声学显微术》是关于纳米力学测试新方法——扫描探针声学显微术（AFAM）的专著，是在作者前期研究的基础上，经过总结和凝练而成。AFAM的基本原理是利用探针与样品的接触振动来对材料纳米尺度的弹性性能进行成像或测量，主要涉及微悬臂梁
的振动力学和接触力学。本书的内容安排如下：第1章绪论，简要介绍当前主要的纳米力学测试方法以及AFAM的发展历史和研究现状。第2章首先简介接触力学的基本理论，随后介绍纳米压痕的测试原理和应用。第3章简介原子力显微镜的基本原理和应用模式。
第4～6章详细介绍AFAM的定量化原理及基本成像模式，测试和成像的准确度和灵敏度以及基于AFAM的黏弹性力学性能测试方法的原理。第7章介绍AFAM在纳米科学技术各个领域的应用，主要涉及复合材料、智能材料和生物材料等。第8章介绍目前正在兴起的另外一种纳米力学测试技术——多频原子力显微成像技术。
本书可作为力学、物理学、材料学等学科，特别是纳米科学与技术领域的研究生、本科生以及相关研究人员的参考书，本书所涉及的原理和方法，对其他测试领域的研究人员也有一定的启示作用。